全能型彩屏数字超声探伤仪UFD-Z8
Z系列：任感官自由飞扬 带方波技术的Z系列高端超声波探伤仪集性能、快捷、专业、便携于一身，精准满足各种苛刻需求。超越主流的性能与硕德产品特质完美融合，从经历中锤炼技巧，有勇气挑战极限。灵敏的反馈、上乘的性能，数字内涵模拟体验、没有杂波干扰的舒畅感觉，它就像您的第六感官，随您想法而动。Z系列超声波探伤仪更像是一款披着便携外衣的检测工作站，必将带领您进入检测的更高境界。
B扫面显示               测值显示定制区   二维色彩编码B扫描   DAC曲线   DGS曲线   回波编码(波形方式 vs. 坐标方式)		独有性能 衍射声时技术(TOFD)，二维图像显示，可测量缺陷高度和深度 底波衰减，深度补偿（Z6c/Z8） 手动/自动测量球化率 国内唯一（Z6c/Z8） 焊缝剖面示意 直观分析（Z6w/Z8） AWS：美国焊接学会标准AWS D1.1/D1.5 (Z6w Z8) 通用性能 方波激励：适用难以穿透复合材料 国内业界领先的可调方波激励技术，适用于难以穿透的各种材料。可调节选项的高性能“方波/脉冲发生器”，实现与探头的最佳匹配。对于声波衰减较厉害的复合材料，铸件，厚板尤其有效，具有极佳的穿透力和信噪比；而对检测薄工件和复合材料又有高的分辨率。 窄带滤波器组(Z) 在常规宽频带滤波基础上增加了多个常用的窄带滤波器，信号通过与探头匹配的窄带滤波器，可获得最好的信噪比，从而极大的抑制了噪声。（达到无杂波效果） 国内率先达到10位高精度AD采样 超长待机：10/20小时，摆脱充电烦恼 高亮真彩，强光可见，屏幕亮度5级可调，节电环保 工业级宽温硬件操作，军工元器件，极低故障率 镁铝合金外壳，坚固耐用，有效防止电磁干扰 功能 U盘存储，即插即用 USB接口可插入U盘，无需驱动，支持热插拨，即插即用。实现探伤报告存储、拷屏打印。 二维编码B扫描 直观显示缺陷位置 高端探伤仪常用的二维色彩编码B扫描功能。B扫描功能图像式的观察缺陷模式，能够产生很好的对比效果，更便于缺陷的分析判断。通过:灰度/彩色调色板还可以自动显示缺陷危害程度，也可实时对比观测A扫波形和B扫图像 超大容量数据储存：3200个数据组 探伤与高精测厚一体 5条智能DAC曲线，符合JIS和API标准 实用DGS曲线:大平底、平底孔、通孔三种参考类型 操作 常用功能一键直达 菜单布局合理 自动校准：声速、探头延迟、角度/K值

性能指标
检测范围	1.0~15000mm
检测分辨率	0.01mm(<100mm)；1mm(>100mm)
声速	500~20000m/s；20个固定声速
显示延迟	-20~3400us 分辨力: 0.1us
探头延迟	0~99us 分辨力: 0.01us
自动校准	通过两个已知参考回波自动校准声速和探头延迟
线性误差	水平 ≤0.1% 垂直 ≤3%
动态范围	≥36dB
灵敏度余量	≥64dB 200mmФ2平底孔
外型尺寸	240×180×50mm
重量	1.9Kg（包括电池组）
工作环境	温度：-20℃~60℃；湿度：20%～90%
发射脉冲
激励脉冲	负尖脉冲
发射重复频率	自动优化发射重复频率，最高大于1KHz
阻尼匹配	50/150/400Ω
接收系统
检测模式	脉冲回波/发射接收/透射
测量方式	峰值/边沿
增益	0~110dB  步距0/0.1、0.2/0.5/1/2/6/12/自定义
检波方式	正/负半波/RF/全波
频率带宽	0.3~1 / 0.5~4 /2~15MHz
显示
LCD	5.7"工业级宽温高亮TFT彩色液晶
背光亮度	5级可调
显示刷新率	不小于60Hz
GUI主题	简约/经典/灰度/强光/弱光5种，用户可通过设置文字、A扫波形、背景、坐标颜色自由定制主题
闸门/测值/报警
闸门	A/B两个独立闸门
测值显示	5个测值显示区，其中1个为主显示区，可选择测值内容SA/SB/DA/DB/PA/PB/A%A/A%B/dBtA/dBtB/dBrA/dBrB/SBA/DBA/PBA/LA/LB
报警	各闸门可独立逻辑报警
存储
通道参数	20组
A扫波形	3200组
厚度值	32万个，线性
波形参考	4幅参考波形
输入输出
探头连接	LEMO或BNC
通讯	RS232
区域
时钟	实时显示日期时间
语言	中英文
单位	mm/inch
电源
电池	高能锂电池，具有卓越的过充过放保护
电源监测	基于库仑计量的电池能量监测，百分比/续航时间显示剩余电量
工作时间	可连续工作20小时以上
电源适配器	输入100~240V/50~60Hz ；输出9VDC/4A
当量曲线
DAC曲线	可记录30标定点；自动增益；任意顺序标定；标定/编辑两种修正方式；考虑了材料衰减和表面补偿因素；5条增益可调评估曲线符合JIS和API标准
DGS曲线	适用于大平底、平底孔、通孔三种参考类型,考虑了参考衰减、材料衰减和表面补偿因素, 缺陷评估方式：当量大小/当量增益/百分比
高级
CSC曲面校正	可根据探头角度、工件厚度和曲率直径对测值进行修正
锁定	各菜单可独立锁定从而避免系统相关参数调节；数据组亦可锁定避免数据误删除
屏幕保护	待机/文字/关机
标配
主机 直探头 斜探头 探头线 充电器 电池 说明书 包装箱 耦合剂	1台 1个 1个 1根 1个 1组（已在主机内） 1本 1个 1瓶
选配
超大容量电池	超长待机时间，持续工作20小时
RF射频输出	用于薄壁材料测量以及对缺陷深入研究和定性分析
打印机	TP串行打印机，可直接打印拷屏/波形/厚度三种数据报告
检测范围	10000mm超大测量范围
超大容量电池	可连续工作20小时以上
通讯	USB

url： http://www.51lm.cn/p/templates/cn/show.php?cid=905&aid=1769