主要特点和优点
最高保真度信号捕获
- 超低时基抖动
-
- 在同时采集的最多8条通道上，典型值为425 fs
- 在配备82A04B相位参考模块时，在最多6条通道上典型值为<100 fs
- 业内最高的垂直分辨率 – 16位模数转换器
-
- 电接口分辨率：<20 μV LSB (1 V全量程)
- 光接口分辨率取决于光接口模块的动态范围 – 从80C07B (1 mW全量程)的<20 nW到80C10B (30 mW全量程)的<0.6 μW
灵活的配置
- 通过当前采样模块系列，DSA8300支持同时采集最多8个信号
- 多种光接口、电接口和附件模块，满足您的特定测试要求
- 光接口模块
-
- 全面集成光接口模块，支持155 Mb/s - 100 Gb/s所有标准光接口数据速率
- 经过认证的光接口参考接收机，支持标准规定必须进行的一致性测试指定的要求
- >80 GHz的光接口带宽
- 光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准
- 经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗
- 经过校准的消光比测量，在采用这一出厂校准选项模块时，系统间消光比测量可靠性<0.5 dB
- 电接口模块
-
- 电接口带宽>70 GHz
- 超低噪声电接口采样器(280 μV @ 20 GHz, 450 μV @ 60 GHz, 典型值)
- 可以选择带宽*，允许用户用采样器带宽和噪声换取最优的数据采集性能
- 远程采样器*或紧凑的采样扩展器模块电缆，采样器可以放在被测器件附近，使信号劣化达到最小
- 世界上性能最高的集成TDR (10 ps典型阶跃上升时间)，高效检定阻抗不连续点，高动态范围，执行高达50 GHz的S参数测量
分析
- 标准分析功能
-
- 为NRZ、RZ和脉冲信号类型提供了一套完整的超过120种自动测量功能
- 80多种行业标准模板，自动进行模板测试。新模板可以导入到DSA8300中，支持新的新兴标准。此外，用户可以为自动模板测试定义自己的模板
- 垂直直方图和水平直方图，对采集的波形进行统计分析
- 垂直光标、水平光标和波形光标(带测量数据)
- 通过80SJNB基本和高级应用软件选项提供抖动、噪声、BER和串行数据链路分析
- 通过IConnect®应用软件选项提供高级TDR分析、S参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能
高测试吞吐量
- 每条通道高达300 kS/s的采样采集速率
- 高效编程接口(IEEE-488、以太网或本地处理器接入)，实现高测试吞吐量
*配有80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和80E11X1 模块时。
应用
- 设计/检验电信和数据通信器件和系统
- ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH制造/一致性测试
- 高性能真正差分TDR测量
- 串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括S参数
- 高级抖动、噪声和BER分析
- 通道和眼图仿真及基于测量的SPICE模型
光接口眼图测试
无源互连测试
串行数据网络分析
抖动、噪声和BER分析
杰出的性能，优异的通用性
DSA8300数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途最广泛的工具。它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和电接口发射机进行检定及一致性测试检验。
此外，DSA8300特别适合电接口信号路径检定，包括封装、PCB或电缆。由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性最强的模块化模块，DSA8300为当前和新兴串行数据技术提供了最高性能的TDR和互连分析能力、最准确的信号损伤分析能力以及BER计算功能。
最后，由于杰出的信号保真度和分辨率，对要求超高带宽、超精细垂直分辨率、低抖动和/或杰出时间间隔精度的电接口和光接口应用，DSA8300提供了黄金标准。
DSA8300拥有无可比拟的测量系统保真度及最低的基本仪器抖动本底(对>1.25 Gb/s的串行数据信号，典型值为425 fs RMS)，保证最准确地同时采集最多8个高带宽信号。相位参考模块（82A04B）的100 fs采集抖动提供了进一步分析优势。多处理器结构及每插槽专用数字信号处理器(DSPs)提供了快速波形采集速率，缩短了进行可靠的检定和一致性测试所需的测试时间。
DSA8300 的通用模块化结构支持大量的且不断增加的插件， 您可以为测量系统配置各种最适合您当前应用和未来应用的电 接口模块、光接口模块和附件模块。DSA8300提供了6个模块 插槽，可以同时容纳一个时钟恢复模块、一个精密相位参考模 块和多个电接口或光接口采集模块，可以让系统性能与不断演 变的需求相适应。由于能够在不断电的情况下插拔采样模块， DSA8300 (适用于固件版本为6.1及以上的示波器)可以根据测 试需求变化，更加灵活地配置DSA8300。
该电接口模块家族拥有业内领先的信号保真度，包括20 GHz到>70 GHz的带宽性能，光接口模块支持从125 Mb/s到100 Gb/s以上的光接口测试，提供了超过80 GHz的光接口带宽。DSA8300支持所有传统的8000系列电接口和光接口采样模块及附件*1.
此外，专用模块配套功能，如单端和差分电接口时钟恢复、电接口采样器静电保护及连接流行的TekConnect®探测系统，在高阻抗探测和差分探测中提供了一流的泰克探头性能。另外，还提供了用于50 Ω探测和TDR探测的低阻抗探头。
DSA8300及相关应用软件完善的测量和分析功能进一步增强了DSA8300及其采样模块和附件的原始采集性能。例如，IConnect®应用软件为无源电接口连接(封装、印刷电路板、背板、电缆、等等)提供了完整的TDR、S参数和信号完整性分析，80SJNB应用软件则为光接口和电接口串行数据链路提供了完整的抖动、噪声和误码率分析及通道和均衡分析和仿真功能。
*1DSA8300不支持80A06码型同步模块，这一功能已经被DSA8300集成高级触发选项(选项ADVTRIG)所代替。
抖动、噪声、BER和串行数据链路分析
H三种软件解决方案支持高速串行数据链路测量和分析：80SJARB、80SJNB Essentials和80SJNB Advanced。*2
- 80SJARB (选项JARB)是一种基本抖动测量工具，能够测量任何波形(随机波形或重复性波形)上的抖动。其采集简单，限制了可能进行的分析数量，因此只能使用最简单的分解功能，其可重复性与码型相关。
- 80SJNB Essentials (选项JNB)可以全面分析抖动、噪声和BER，支持成分分解，可以清楚地了解信号的问题和余量。这种采集方式要求重复性码型。与80SJARB相比，其精度和可重复性都得到改进，因为该工具可以访问完整的信号码型。
- 80SJNB Advanced (选项JNB01)在80SJNB Essentials中增加了多种串行数据链路分析功能，包括夹具反嵌、通道仿真、FFE/DFE均衡和预加重/去加重。
分析任意数据的抖动(80SJARB)
DSA8300系列使用的80SJARB抖动测量应用软件适用于要求J2和J9抖动测量的IEEE 802.3ba应用。它还可以对NRZ数据信号进行基本抖动测量，包括PRBS31、随机性业务和加扰数据。这提供了一种入门级抖动分析功能，支持简单的Dual Dirac模型抖动分析，没有码型同步要求。80SJARB可以在Free Run模式下连续采集数据，其采集和更新速率均超过了IEEE规定的10,000个数据点的最低要求。它为测得数据和推断数据提供了抖动浴缸曲线，为采集数据提供了直方图。
80SJARB抖动分析
| 测量 |
说明 |
| J2 |
BER = 2.5e–3时的总抖动 |
| J9 |
BER = 2.5e–10时的总抖动 |
| Tj |
BER = 1.0e–12时的总抖动 |
| DJdd |
确定性抖动 (Dual Dirac模型) |
| RJdd |
随机性抖动 (Dual Dirac模型) |
Free Run 模式: 用于超过IEEE规定的10,000个数据点最低要求的连续采集和更新。
曲线: 抖动 / 眼图张开浴缸，采集数据直方图。
80SJNB抖动和噪声分析测量
80SJNB抖动分析
| 测量 |
说明 |
| TJ at BER |
指定BER时的总抖动 |
| J2 |
BER = 2.5e–3时的总抖动 |
| J9 |
BER = 2.5e–10时的总抖动 |
| RJ |
随机性抖动 |
| RJ(h) |
随机性抖动的水平成分 |
| RJ(v) |
随机性抖动的垂直成分 |
| RJ(d-d) |
根据Dual Dirac模型的随机性抖动 |
| DJ |
确定性抖动 |
| DDJ |
数据相关抖动 |
| DDPWS |
数据相关脉宽缩减量 |
| DCD |
占空比失真 |
| DJ(d-d) |
Dual Dirac模型计算得出的确定性抖动 |
| PJ |
周期性抖动 |
| PJ(h) |
周期性抖动的水平成分 |
| PJ(v) |
周期性抖动的垂直成分 |
| EO at BER |
指定BER时的水平眼图张开程度 |
| BUJ |
有界不相关抖动 |
| NPJ |
非周期性抖动(不相关，有界) |
| SSCMagnitude |
SSC调制幅度，ppm |
| SSCFrequency |
SSC调制频率，ppm |
80SJNB噪声分析
| 测量/th> |
说明 |
| RN |
随机性噪声 |
| RN(v) |
随机性噪声的垂直成分 |
| RN(h) |
随机性噪声的水平成分 |
| DN |
确定性噪声 |
| DDN1 |
逻辑电平1上的数据相关噪声 |
| DDN0 |
逻辑电平0上的数据相关噪声 |
| PN |
周期性噪声 |
| PN(v) |
周期性噪声的垂直成分 |
| PN(h) |
周期性噪声的水平成分 |
| EO at BER |
指定BER时的垂直眼图张开程度 |
| BUN |
有界不相关噪声 |
| NPN |
非周期性噪声 |
80SJNB Advanced支持:
- FFE (前馈均衡)，支持100个分接点
- DFE (判定反馈均衡)，支持40个分接点
- 支持从夹具反嵌到发射机均衡的线性滤波器。对一阶谐波频率损耗>30 dB的通道，支持通道仿真
*2可以购买这些应用软件，安装在现有的带有DSA83UP升级套件的DSA8300示波器上。
TDR (时域反射计)应用
DSA8300是业内性能最高的全集成时域反射计(TDR)测量系统。DSA8300提供了高达50 GHz带宽的及15 ps反射上升时间和12 ps入射上升时间，实现了真正差分TDR测量，可以满足当前最苛刻的串行数据网络分析(SDNA)要求。
80E10B和80E08B TDR模块拥有全面集成的独立双通道2m远程采样器系统，使夹具减到最小，保证了最优的系统保真度。独立采样器偏移校正技术保证快速简便地反嵌夹具和探头。通过使用一个差分模块的TDR阶跃驱动一个线对，同时使用第二个差分模块监测第二个线对，用户可以检定输入串扰。
DSA8300是业内用途最广泛的TDR测量系统，支持最多4个双通道真正差分TDR模块，快速准确地进行多路阻抗和S参数检定。
P80318真正差分TDR探头和P8018单端无源手持式TDR探头为检定电路板阻抗和电接口信号提供了高性能探测解决方案。P80318是一种18 GHz 100 Ω输入阻抗差分TDR手持探头，可以对差分传输线进行高保真阻抗测量。可以调节的探头间隙支持各种差分线路间距和阻抗。P8018是一种20 GHz单端无源手持式TDR探头。P80318和P8018都可以作为独立式探头使用，它们都采用专门设计，可以与80A02结合使用，控制EOS/ESD保护功能。
*3上升时间为10-90%。80E10B 的典型反射上升时间<10 ps。
几千兆位信号路径检定和分析– 串行数据网络分析(SDNA)
随着数字电路的时钟速率和上升时间不断提高，互连信号完整性对数字系统的性能影响非常大。在时域和频域中对信号路径和互连进行准确高效的串行数据网络分析(SDNA)，对预测信号损耗、抖动、串扰、端接和振铃、数字误码和眼图劣化至关重要，以确保系统可靠运行。
泰克提供多个真正差分TDR模块，这些模块与IConnect®软件相结合，可以以高达–70 dB的动态范围进行S参数测量。这种性能保证了在串行数据分析、数字设计、信号完整性和电接口一致性测试应用中进行准确的、可重复的测量。
装有IConnect®软件的TDR模块性能
| TDR模块 |
S参数测量带宽性能 |
| 80E10B |
50 GHz |
| 80E08B |
30 GHz |
| 80E04 |
20 GHz |
通过长记录长度采集技术，IConnect®提供了巨大的灵活性，在执行S参数测量时获得了所需的频率范围和频率阶跃。可以采集最多1,000,000点数据。
在结合使用IConnect®信号完整性TDR和S参数软件及DSA8300时，您可以获得高效、易用、经济的解决方案，基于测量数据评估几千兆位互连链路和器件的性能，包括信号完整性分析、阻抗、S参数和眼图测试及故障隔离。IConnect®可以帮助您在几分钟内、而不是几天内完成互连分析任务，加快系统设计时间，降低设计成本。IConnect®还可以进行许多串行数据标准要求的阻抗、S参数和眼图一致性测试，及对几千兆位互连进行全面的通道分析、Touchstone (SnP)文件输出SPICE建模。
故障分析 – 迅速识别问题位置
80E10B微米级分辨率和IConnect®真正阻抗曲线可以迅速识别问题的具体位置。
80E10B拥有12 ps的典型TDR上升时间，提供了杰出的分辨率，可以最快、最高效地隔离封装、电路板和芯片故障分析应用中的问题。
IConnect®信号完整性TDR和S参数软件
IConnect® S参数软件在DSA8300 TDR平台上运行，为数字设计、信号完整性分析和互连一致性测试中的S参数测量提供了最经济、吞吐量最高的方式，与类似带宽的VNA相比，可以节约高达50%的成本，明显加快测量速度。
您还可以利用IConnect® S参数软件的命令行界面，在使用TDR仪器进行的整套制造测试中自动进行S参数测量，明显缩短测试时间，提高测量可靠性。可以使用参考源(开路、短路、直通)简便地校准S参数，并可以选配50 Ω负荷，轻松实现测量、夹具反嵌及移动参考平面。Touchstone文件格式输出可以简便地共享S参数文件，进一步进行数据分析和仿真。
泰克提供了多款真正差分TDR模块，这些模块与IConnect®相结合，提供了带宽高达50 GHz及动态范围–70 dB的S参数测量能力。这一性能超越了串行数据分析、数字设计和信号完整性应用的要求，串扰解析精度达到1% (–40 dB)，而电接口一致性测试模板一般要求在–10 dB到–30 dB的范围内进行测量。
- IConnect®软件可以直接从TDR/T或VNA S参数测量中，迅速简便地为PCB、柔性电路板、连接器、电缆、封装、插座和I/O缓冲输入生成SPICE和IBIS模型。
- IConnect®可以显示数字系统中的眼图劣化、抖动、损耗、串扰、反射和振铃。
- IConnect® Linear Simulator允许设计人员把多条互连通道连接起来，评估整体时域和频域性能及整个通道的眼图。
- IConnect®明显简化了互连链路的信号完整性分析、均衡和加重器件设计以及带有发射机和接收机的互连链路分析。
如需进一步了解IConnect®应用软件，请参阅“IConnect®信号完整性、TDR,和S参数软件 – 80SICMX • 80SICON • 80SSPAR”产品技术资料。
高速光接口测试解决方案
DSA8300拥有高度可配置的主机和各种光接口模块，为125 Mb/s - 100 Gb/s以上应用提供了完整的高保真光接口测试解决方案。这些模块涵盖了单模光纤和多模光纤的各种波长。每个模块可以选配大量的可选择的光接口参考接收机(ORR)滤波器和/或一条全带宽路径。每个模块还支持经过全面校准的时钟恢复解决方案(可以集成到模块中，或通过数据捡拾发送到外部时钟恢复模块或独立式时钟恢复仪器)。
下面的选型指南简要介绍了泰克提供的每个光接口采样模块，并包括每个模块主要指标。如需这些模块更完整的信息，请参阅“光接口采样模块 – 80C07B • 80C08C • 80C10B • 80C11 • 80C12 • 80C25GBE”产品技术资料。
光接口采样模块
| 模块 |
说明 |
| 80C07B多速率数据通信和电信模块 |
80C07B模块是为测试125 Mb/s - 2.5 Gb/s数据通信/电信信号而优化的一种宽波长(700 - 1650 nm)多速率光接口采样模块。由于放大光电转换器设计，这种模块提供了杰出的信噪比，用户可以考察低功率光接口信号。80C07B可以选配经过全面校准的内部时钟恢复功能，支持125、155、622、1063、1250、2125、2488、2500和2666 Mb/s速率。 |
| 80C08D多速率、宽波长、高灵敏度10 Gb/s模块 |
80C08D模块是一种宽波长(700 - 1650 nm)多速率光接口采样模块，为10GbE、40GbE-R4和9.953、 10.3125、11.0957 Gb/s 的100GbE-SR10 应用以及10.51875 和11.317 Gb/s 的10G 光纤通道应用 提供了数据通信速率测试功能。80C08D 还提供了9.953、10.664 和10.709 Gb/s 的电信速率测试功 能。由于放大光电转换器设计，这种模块提供了杰出的信噪比性能和高光接口灵敏度，用户可以考察 低功率光接口信号。80C08D 可以选配集成时钟恢复选项，支持以9.8 - 12.6 Gb/s 的任何标准速率或 用户指定速率采集信号。 |
| 80C10C 多速率通信和电信40 Gb/s 和100 Gb/s 模块 |
80C10C 1310 nm 模块提供了集成的、可以选择的参考接收机滤波功能，可以在所有标准25、40 和 100 (4 x 25) Gb/s 标准速率下1310 nm 或1550 nm 波长处进行一致性测试。80C10C 有三种配置：
- 选项F1：为下述速率(标准)提供了满足标准的光学参考接收机：
25.781 Gb/s (100GBase-LR4 和100GBase-ER4)
27.952 Gb/s (OTU4)
39.813 Gb/s (OC-768/STM-256, VSR2000 G.693, 40G NRZ G.959.1)
41.25 Gb/s (40GBase-FR)
43.018 Gb/s (G.709 FEC, OTU3 4 × 10G LAN PHY)
- 选项F2：为下述速率(标准)提供了满足标准的光学参考接收机：
25.781 Gb/s (100GBase-LR4 和100GBase-ER4)
27.952 Gb/s (OTU4)
- 选项F3：为下述速率(标准)提供了满足标准的光学参考接收机：
39.813 Gb/s (OC-768/STM-256, VSR2000 G.693, 40G NRZ G.959.1)
41.25 Gb/s (40GBase-FR)
43.018 Gb/s (G.709 FEC, OTU3 4 × 10G LAN PHY)
除滤波速率外，用户还可以选择80C10C 的带宽，实现最优的噪声与带宽性能，准确检定信号。在配 备选项CRTP时，它将为时钟恢复提供电接口信号捡拾功能。80C10C高达28.6 Gb/s的时钟恢复功能 使用CR286A 时钟恢复仪(单独销售)提供。在配备选项HSPR 时，它将提供一个单独的高灵敏度光接 收机，并带有独立电接口输出，可以用于外部设备(如泰克BERTScope)，进行高精度光学测量。80C10C 还可以在捆绑订购配置中选配，这种配置包括一个单通道70+ GHz 电接口采样模块。 |
| 80C11B多速率10 Gb/s数数据通信和电信模块 |
80C11B 模块是为测试9.953、10.3125、10.51875、10.664、10.709、11.0957、11.317 和14.025 Gb/s 的 10 Gb/s 数据通信和电信标准速率而优化的一种宽波长(1100 - 1650 nm)多速率光接口采样模块。由 于高达30 GHz (典型值)的高光接口带宽，它特别适合通用的高性能10 Gb/s光接口器件测试。80C11B 可以选配时钟恢复功能，支持9.8 - 12.6 Gb/s 连续范围内的任何标准速率或用户自定义速率。 |
| 80C12B多速率数据通信和电信模块 |
80C12B 模块是一种长波长(700 - 1650 nm)多速率光接口采样模块，为155 Mb/s - 11.4 Gb/s 标准 提供了电信和数据通信测试功能。这种模块非常灵活，可以配置成支持各种10 Gb/s 应用、较低数据 速率应用(155 Mb/s - 7.4 Gb Gb/s)或10G 和较低数据速率标准组合。 低数据速率应用包括：155-2666 Mb/s的电信应用，1G、2G和4G光纤通道，多路标准(如10GBASE-X4 和4 路10 Gb/s 光纤通道)，以及Infiniband SDR 和DDR 速率。 支持的10 Gb/s应用包括数据通信标准和电信标准。支持的10 Gb/s数据通信应用包括9.953、10.3125、 11.0957 Gb/s 的10GbE、40GbE-R4、100GbE-SR10 应用，以及10.51875 Gb/s 和11.317 Gb/s 的 10G 光纤通道应用。80C12B 还提供了9.953、10.664 和10.709 Gb/s 电信速率测试功能。 通过放大的光电转换器设计，这一模块提供了杰出的信噪比性能及高光学灵敏度，允许用户检查低功 率光学信号。80C12B 的时钟恢复功能使用80A05 模块或CR125A 时钟恢复仪器(单独销售)提供。 |
| 80C14多速率数据通信和电信模块 |
80C14模块是一种宽波长(700 - 1650 nm)多速率光接口采样模块，提供了8G、10G和16G电信和数据通信测试功能。支持的10 Gb/s数据通信应用包括：10GbE，40GbE-R4，9.953、10.3125和11.0957 Gb/s的100GbE-SR10应用。光纤通道应用包括：8.500、10.51875、11.317和14.025 Gb/s。80C14还提供了9.953、10.664、10.709和12.5 Gb/s电信速率测试功能。由于放大光电转换器设计，这种模块提供了杰出的信噪比性能和高光接口灵敏度，用户可以考察低功率光接口信号。80C14的时钟恢复功能由CR175A或CR286A(单独销售)提供。 |
光接口采样模块选型指南
| 特点 |
80C07B*4 |
80C08D |
80C12B*5 |
80C14 |
80C11B |
80C10C*6 |
| 选项 F1-F12 |
选项 10G/10GP |
选项 F1 |
选项 F2 |
选项 F3 |
| 下表列出了DSA8300目前使用的每个光接口采样模块的主要指标，以帮助您为自己的光接口测试应用选择最合适的光接口模块。详细指标请参阅80Cxx光接口采样模块产品技术资料。 |
| 波长范围(nm) |
700-1650 |
700-1650 |
700-1650 |
700-1650 |
700-1650 |
1100-1650 |
1290-1330
1520-1620
|
1290-1330
1520-1620
|
1290-1330
1520-1620
|
| 没有滤波的光接口带宽(GHz) |
2.5 |
12.5 |
12*7 |
12*7 |
12 |
30 |
70 |
55 |
80 |
| 光纤输入(μm) |
9, 50, 62.5 |
9, 50, 62.5 |
9, 50, 62.5 |
9, 50, 62.5 |
9, 50, 62.5 |
9 |
9 |
9 |
9 |
| 模板测试灵敏度(dBm) |
–22 |
–16*8 |
–19 |
–15 |
–15 |
–9 |
–8*9 |
–8*9 |
–8*9 |
| 支持的光接口参考接收机 |
| 155 Mb/s |
▪ |
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 622 Mb/s |
▪ |
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 1063 Mb/s |
▪ |
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 1250 Mb/s |
▪ |
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 2125 Mb/s |
▪ |
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 2488, 2500 Mb/s |
▪ |
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 3.125, 3.188 Gb/s |
|
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 4.25 Gb/s |
|
|
▪ |
|
|
|
|
|
|
| 8.50 Gb/s |
|
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 9.95 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 10.31 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 10.52 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 10.66 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 10.71 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 11.1 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 11.3 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
| 14.025 Gb/s |
|
|
|
|
▪ |
▪ |
|
|
|
| 14.063 Gb/s |
|
|
|
|
▪ |
▪ |
|
|
|
| 25.78 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
▪ |
▪ |
|
| 27.74 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
▪ |
▪ |
|
| 39.81 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
▪ |
|
▪ |
| 41.25 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
▪ |
|
▪ |
| 43.02 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
▪ |
|
▪ |
*480C07B 有具体的支持的参考接收机分组情况，详情请参阅80Cxx 光接口模块产品技术资料。
*580C12B 有具体的支持的参考接收机分组情况，详情请参阅80Cxx 光接口模块产品技术资料。。
*680C10C 时钟恢复触发捡拾(选项CRTP)可以支持>43 Gb/s 数据速率的触发捡拾。
*780C12B 全部12 GHz 带宽只在选项F0, 10G 或10GP 中提供。
*8对内部时钟恢复选项，80C08D 的模板测试灵敏度会下降~1 dBm。
*9对内部时钟恢复捡拾(选项CRTP)，80C10C 的模板测试灵敏度会下降~0.6 dBm。
光接口测试时钟恢复
在许多光接口应用中，没有直接的数据时钟提供参考信号，以便从被测器件中采集信号。在这些情况下，必需从数据信号中恢复时钟。泰克8000系列采样示波器产品提供了一套完整的时钟恢复解决方案，满足了这一需求。每个解决方案都经过全面校准，用户不需进行任何手动系统校准，来考虑由于发送到时钟恢复单元输入的数据捡拾而导致的任何损耗。下面的选型指南列明了时钟恢复解决方案及每种解决方案的主要指标，帮助您选择最适合自己应用的解决方案。详细指标请参阅80Cxx光接口采样模块产品技术资料(集成到80C07B、80C08C或80C11中的时钟恢复选项)，独立式时钟恢复模块或仪器请参阅相应的时钟恢复产品技术资料。
注:独立式时钟恢复模块/仪器拥有电接口输入，可以用来从电接口信号及8000系列光接口采样模块的电接口数据捡拾输出中恢复时钟。
集成时钟恢复选项*8
| 特点 |
80C07B |
80C08D |
80C11B |
| 选项 CR1 |
选项 CR1 |
选项 CR2 |
选项 CR4 |
选项 CR1 |
选项 CR2 |
选项 CR3 |
选项 CR4 |
| C连续可变速率范围(Gb/s) |
固定速率 |
固定速率 |
固定速率 |
9.8 - 12.6 |
固定速率 |
固定速率 |
固定速率 |
9.8 - 12.6 |
| 时钟恢复灵敏度(dBm)*9 |
–22 |
–15 |
–15 |
–15 |
–9 |
–9 |
–9 |
–9 |
| 支持的标准速率 |
| 125, 155 Mb/s |
▪ |
|
|
|
|
|
|
|
| 622 Mb/s |
▪ |
|
|
|
|
|
|
|
| 1063 Mb/s |
▪ |
|
|
|
|
|
|
|
| 1250 Mb/s |
▪ |
|
|
|
|
|
|
|
| 2125 Mb/s |
▪ |
|
|
|
|
|
|
|
| 2488, 2500 Mb/s |
▪ |
|
|
|
|
|
|
|
| 9.95 Gb/s |
|
▪ |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 10.31 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
|
|
|
▪ |
| 10.52 Gb/s |
|
|
▪ |
▪ |
|
|
|
▪ |
| 10.66 Gb/s |
|
|
|
▪ |
|
▪ |
|
▪ |
| 10.71 Gb/s |
|
|
|
▪ |
|
|
▪ |
▪ |
| 11.1 Gb/s |
|
|
|
▪ |
|
|
|
▪ |
| 11.3 Gb/s |
|
|
|
▪ |
|
|
|
▪ |
| 14.025 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 14.063 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 25.78 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 27.74 Gb/s |
|
|
|
|
|
|
|
|
*10时钟恢复功能集成到光接口模块中，可以从8000系列示波器的Trigger Setup菜单中控制。
*11电接口时钟恢复灵敏度适用于差分输入，随输入时钟速率变化。详情请参阅时钟恢复产品技术资料。
独立式(电接口)时钟恢复模块/仪器
| 特点 |
80A05*12 |
CR125A*13 |
CR175A*13 |
CR286A*13 |
| 标配 |
选项 10G |
| 连续可变速率范围(Gb/s) |
50 - 3.188, 4.25 |
50 - 3.188, 3.267 - 4.25, 4.900 - 6.375, 9.8 - 12.6 |
0.1 - 12.5 |
0.1 - 17.5 |
0.1 - 28.6 |
| 时钟恢复灵敏度 (mVp-p)*9 |
≤15 |
≤15 |
15 |
15 |
15 |
| 可调节时钟恢复环路带宽和峰值*12 |
|
|
▪ |
▪ |
▪ |
| 支持的标准速率 |
| 125, 155 Mb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 622 Mb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 1063 Mb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 1250 Mb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 2125 Mb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 2488, 2500 Mb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 2.66 Gb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 3.125, 3.188 Gb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 4.25 Gb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 5.00 Gb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 6.14 Gb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 7.37 Gb/s |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 8.50 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 9.95 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 10.31 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 10.52 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 10.66 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 10.71 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 11.1 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 11.3 Gb/s |
|
▪ |
▪ |
▪ |
▪ |
| 14.025 Gb/s |
|
|
▪ |
▪ |
▪ |
| 14.063 Gb/s |
|
|
▪ |
▪ |
▪ |
| 25.78 Gb/s |
|
|
|
|
▪ |
| 27.74 Gb/s |
|
|
|
|
▪ |
*11差分输入的电接口时钟恢复灵敏度随输入时钟速率变化。详情请参阅时钟恢复产品技术资料。
*12时钟恢复模块插入8000系列示波器的大模块插槽中，可以从Trigger Setup菜单控制。
*13独立式时钟恢复仪器；可以从BERTScope时钟恢复仪器控制软件中控制，可以从8000系列示波器的App菜单中接入。
*14如需进一步了解时钟恢复环路带宽和峰值，请参阅时钟恢复产品技术资料。
光接口测试应用测量和分析工具
DSA8300包括为满足光接口测试应用专门设计的各种测量和分析工具。除标准幅度和定时参数测量外(如上升时间/下降时间、幅度、RMS抖动、RMS噪声、频率、周期、等等)，DSA8300的测量套件还包括为测量光接口信号订制的测量(平均光接口功率、消光比、眼图高度、眼图宽度、光接口调制幅度(OMA)、等等)。如需完整的测量清单，请参阅本产品技术资料中的“数学运算/测量”部分。
DSA8300包括从155 Mb/s到100 Gb/s所有常用光接口标准的标准一致性测试模板。用户还可以创建自己的模板，自动进行模板测试。另外还提供了直方图和光标测量，分析DSA8300采集的光接口信号。
最后，80SJNB应用软件支持全面分析光接口信号的抖动、噪声和BER。这一软件的高级版(选项JNB01)支持评估有损伤的信号的加重和均衡。
高性能电接口测试解决方案
DSA8300还特别适合各种高性能电接口应用。由于模块化系统，用户可以为DSA8300配置最适合其要求的各种电接口模块。下表列出了DSA8300目前使用的每个电接口采样模块的主要指标，以帮助您为自己的应用选择最合适的电接口模块。详细指标请参阅80Exx电接口采样模块产品技术资料。
电接口采样模块选型指南
| 特点 |
80E01 |
80E03 |
80E11
80E11X1 |
80E07B |
80E09B |
TDR模块 |
| 80E04 |
80E08B |
80E10B |
| 通道数量 |
1 |
2 |
2 (80E11)
1 (80E11X1) |
2 |
2 |
2 |
2 |
2 |
| 带宽 |
50 GHz |
20 GHz |
40/60/70 GHz
(用户可以选择)
|
20/30 GHz
(用户可以选择)
|
30/40/60 GHz
(用户可以选择)
|
20 GHz |
20/30 GHz
(用户可以选择)
|
30/40/50 GHz
(user selectable)
|
| 全部带宽时的阶跃响应(10-90%) |
7 ps |
17.5 ps |
5.0 ps |
11.7 ps |
5.8 ps |
17.5 ps |
11.7 ps |
7 ps |
| RMS噪声 |
1.8 mV |
600 µV |
330 µV at 40 GHz
450 µV at 60 GHz
950 µV at 70 GHz
|
280 µV at 20 GHz
300 µV at 30 GHz
|
300 µV at 30 GHz
330 µV at 40 GHz
450 µV at 60 GHz
|
600 µV |
280 µV at 20 GHz
300 µV at 30 GHz
|
300 µV at 30 GHz
370 µV at 40 GHz
600 µV at 50 GHz
|
| 入射TDR阶跃上升时间 (10-90%) |
— |
— |
— |
— |
— |
23 ps |
18 ps |
12 ps |
| 反射TDR阶跃上升时间 (10-90%) |
— |
— |
— |
— |
— |
28 ps |
20 ps |
15 ps |
| 远程采样功能 |
选配2 m 80N01扩展器电缆 |
选配2 m 80N01扩展器电缆 |
选配2 m 80N01扩展器电缆 |
全面集成2 m远程电缆 |
全面集成2 m远程电缆 |
选配2 m80N01扩展器电缆 |
全面集成2 m远程电缆 |
全面集成2 m远程电缆 |
S参数性能特点(80E10B)
测量条件
- 所有测量均在DSA8300手册规定的正确预热时间之后进行
- 使用标准S参数动态范围测量方法，确定模块的动态范围
- 不确定性结果从各种器件中导出，平均250次
- 通过在80E10B模块上选择较低的带宽设置，可以实现更好的动态范围，因为RMS噪底较低
- 结果适用于单端测量或差分测量
动态范围
不确定性
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12522120
12522120
+86-14782588945
